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微区红外光谱分析系统
发布时间:2016-06-03    浏览次数:651


主要技术参数:

频谱范围:900cm-1~2000cm-12235cm-1~3600cm-1           光谱分辨率:4cm-1

最大成像尺寸:80μm×80μm                     光谱采集时间:≤1分钟/光谱

XY扫描范围:80μm×80μm,闭环电容式传感器;         Z扫描范围:>6μm

XY移动载物台:7mm×9mm,自动

主要功能及特色:
1) 常规AFM模式,包括轻敲、接触、力曲线、力调制、侧向力、扫描隧道显微镜、相成像;
2) 峰值力显微镜,可精确控制针尖和样品的作用力到pN;
3) 可在一个固定的、感兴趣的波数下进行红外吸收和反射成像;
4) 可原位获得形貌图像、红外吸收成像和机械性能成像同步测试;
5) 能够提供异质材料如共混物/混合物/多层膜的局部热分析鉴定;

联系人  黄田田
邮箱343316973@qq.com
电话 15874828116



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