生产厂家 Bruker Nano/美国

型号 Contour GT-K

购买时间 2020年12月23日

主要规格及技术指标

纵向量程：150mm/1mm

横向取样间隔：80～13100nm

垂直纵向分辨率：0.1nm

光学横向分辨率：400～600nm

测量倍数：5X-50X

主要功能及特色

本设备为光学轮廓仪；主要功能为表面形貌测量，表面粗糙度、台阶高度和平面度测量；广泛应用于微机械电子系统、薄膜、光学器件、陶瓷、高级材料等领域。

联系人 刘锐锋

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电话 13677499956