主要技术参数：

频谱范围：900cm^-1~2000cm^-1和2235cm^-1~3600cm^-1；光谱分辨率：4cm^-1

最大成像尺寸：80μm×80μm；光谱采集时间：≤1分钟/光谱

XY扫描范围：80μm×80μm，闭环电容式传感器； Z扫描范围：＞6μm

XY移动载物台：7mm×9mm，自动

主要功能及特色：

1） 常规AFM模式，包括轻敲、接触、力曲线、力调制、侧向力、扫描隧道显微镜、相成像；

2） 峰值力显微镜，可精确控制针尖和样品的作用力到pN；

3） 可在一个固定的、感兴趣的波数下进行红外吸收和反射成像；

4） 可原位获得形貌图像、红外吸收成像和机械性能成像同步测试；

5） 能够提供异质材料如共混物/混合物/多层膜的局部热分析鉴定；