仪器设备

当前您的位置: 首页 > 仪器设备 > 仪器设备 > 正文 >

光电子器件集成测试系统

发布时间:2021-03-25    浏览次数:

型号:mSWS-A2

主要功能:

光无源测试系统主要用于各种光无源器件(如多端口的光分路器、复用器、解复用器等)的基本性能参数测试,例如插入损耗、偏振相关损耗、回波损耗等参数,并给出各项参数随波长变化的结果。

技术参数:

1、测试波长范围:1520.086~1630nm;

2、测试绝对波长精度:±2pm;

3、测量速度:<5秒(C+L波段);

4、IL测量动态范围:最高可达70dB;

5、IL测量分辨率:0.001dB;

6、IL测量不确定性:±0.03dB;

7、PDL测量范围:50dB;

8、PDL测量分辨率:0.001dB;

9、PDL测量不确定性:±0.01dB(0~20dB);

10、多波长计工作范围:1526.44~1568.77nm;

11、频率不确定度:±370MHz;

12、分辨率带宽:300MHz;

13、输入功率范围:-60 ~ +10 dBm;

14、功率不确定度:±0.5dB;

15、接口回损:>50dB;

使用人:郑煜

详细地址:中南大学中铝科技大楼(机电学院)C102



上一篇:激光粒度分析仪
下一篇:波前分析仪